1. 國外相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)現(xiàn)狀
普通LED的測試標(biāo)準(zhǔn)有：

(1)IEC60747-5 Semiconductor devices Discrete devices and integrated circuits(1992)
IEC60747-5半導(dǎo)體分立器件及集成電路

(2)IEC60747-5-2 Discrete semiconductor devices and integrated circuits-Part 5-2:Optoelectronic devices-Essential ratings and characteristics (1997-09)
IEC60747-5-2分立半導(dǎo)體器件及集成電路零部件5-2：光電子器件—分類特征及要素(1997-09)

(3)IEC60747-5-3 Discrete semiconductor devices and integrated circuits-Part 5-3 :Optoelectronic devices-Measuring methods(1997-08)
IEC60747-5-3分立半導(dǎo)體器件及集成電路零部件 5-3：光電子器件—測試方法(1997-08)

(4)IEC60747-12-3 Semiconductor devices－part12-3: optoelectronic devices –Blank detail specification for light-emitting diodes –Display application(1998-02)
IEC60747-12-3半導(dǎo)體分立器件12-3：光電子器件—顯示用發(fā)光二極管空白詳細(xì)標(biāo)準(zhǔn)（1998-02）

(5)CIE127-1997 Measurement of LEDs(1997)
CIE127-1997 LED測試方法（1997）

(6) CIE/ISO standards on LED intensity measurements
CIE/ISO LED強(qiáng)度測試標(biāo)準(zhǔn)

國際照明委員會(huì)（ CIE）1997年發(fā)表 CIE127-1997 LED測試方法 ， 把 LED 強(qiáng)度測試確定為平均強(qiáng)度的概念，并且規(guī)定了統(tǒng)一的測試結(jié)構(gòu)和探測器大小，這樣就為 LED 準(zhǔn)確測試比對(duì)奠定了基礎(chǔ)。雖然CIE 127－1997 測試方法 并非國際標(biāo)準(zhǔn)，但它容易實(shí)施準(zhǔn)確測試比對(duì)，目前世界上主要企業(yè)都已采用。 但是隨著技術(shù)的快速發(fā)展，許多新的 LED技術(shù)特性 CIE127-1997 LED測試方法 沒有涉及。

目前，隨著半導(dǎo)體照明產(chǎn)業(yè)的快速發(fā)展，發(fā)達(dá)國家非常重視 LED測試標(biāo)準(zhǔn)的制訂。如美國國家標(biāo)準(zhǔn)檢測研究所（NIST）正在開展LED測試方法的研究，準(zhǔn)備建立整套的LED測試方法和標(biāo)準(zhǔn)。同時(shí)，許多國外大公司的研究和開發(fā)人員正在積極參與國家和國際專業(yè)化組織，制訂半導(dǎo)體照明測試標(biāo)準(zhǔn)。如2002年10月28日，美國Lumileds公司和日本Nichia宣布雙方進(jìn)行各自LED技術(shù)的交叉授權(quán)，并準(zhǔn)備聯(lián)合制訂功率型LED標(biāo)準(zhǔn)，以推動(dòng)市場應(yīng)用。

2. 國內(nèi)相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)現(xiàn)狀
從八十年代初起，我國相繼制定了一些與發(fā)光二極管相關(guān)的行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)和國家標(biāo)準(zhǔn)。 國內(nèi)現(xiàn)有與 LED測試有關(guān)的標(biāo)準(zhǔn)有：

(1) Sj2353.3-83半導(dǎo)體發(fā)光二極管測試方法

(2) Sj2658－86 半導(dǎo)體紅外發(fā)光二極管測試方法

(3) GB/T12561—1990發(fā)光二極管空白詳細(xì)規(guī)范

(4) GB/T15651－1995半導(dǎo)體器件分立器件和集成電路：光電子器件（國家標(biāo)準(zhǔn)）

(5) GB/T18904.3—2002半導(dǎo)體器件12-3:光電子器件顯示用發(fā)光二極管空白詳細(xì)規(guī)范（采用IEC60747-12-3:1998）

(6) 半導(dǎo)體分立器件和集成電路第 5 － 2 部分：光電子器件基本額定值和特性（國家標(biāo)準(zhǔn)；制訂中）

(7) 半導(dǎo)體分立器件和集成電路第 5 － 3 部分：光電子器件測試方法（國家標(biāo)準(zhǔn)；制訂中）

(8) 半導(dǎo)體發(fā)光二極管測試方法（中國光協(xié)光電器件分會(huì)標(biāo)準(zhǔn)； 2002）