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電子元件的可靠性與可靠性試驗

來源:金鑒LED技術(shù)        編輯:小月亮    2020-07-02 18:09:05     加入收藏

可靠性表示產(chǎn)品連續(xù)穩(wěn)定工作的能力。產(chǎn)品基本性能直觀表征靜態(tài)質(zhì)量合格與否,還不能反映產(chǎn)品質(zhì)量的全貌、穩(wěn)定性。

  可靠性是什么?

  關(guān)于可靠與不可靠

  總能按要求完成工作——可靠 !

  有時能完成工作,有時不能完成工作——不可靠 !

  為什么有基本性能,還要評價可靠性?

  為什么一批產(chǎn)品基本性能都經(jīng)測試合格,用一段時間后先會壞掉一部分?

  為什么同一型號規(guī)格產(chǎn)品,基本性能值更高的,有時反而出現(xiàn)更多的壞品?

  ......

  那是因為基本性能并沒有反映質(zhì)量的全部,產(chǎn)品還有一個固有屬性—可靠性!

  

  可靠性表示產(chǎn)品連續(xù)穩(wěn)定工作的能力。產(chǎn)品基本性能直觀表征靜態(tài)質(zhì)量合格與否,還不能反映產(chǎn)品質(zhì)量的全貌、穩(wěn)定性。

  產(chǎn)品質(zhì)量特性包括構(gòu)成產(chǎn)品質(zhì)量的一切外在的特征和內(nèi)在的特性

  電子元件的基本性能指標(biāo)高,其可靠性不一定高。如果產(chǎn)品可靠性低,即使其初始技術(shù)性能再好也得不到發(fā)揮。

  例如,陶瓷貼片電容器的介質(zhì)擊穿電壓較高的產(chǎn)品,很可能在高溫負(fù)載加速壽命試驗中失效率較高。

  可靠性可以綜合反映產(chǎn)品的質(zhì)量。電子元件的可靠性是電子設(shè)備可靠性的基礎(chǔ),要提高設(shè)備或系統(tǒng)的可靠性必須提高電子元件的可靠性。

  可靠性是電子元件重要質(zhì)量指標(biāo),須加以考核和檢驗。

  可靠性的科學(xué)定義

  元件、產(chǎn)品或系統(tǒng)在規(guī)定條件 、規(guī)定時間 ,完成規(guī)定功能 的能力稱為可靠性。

規(guī)定條件
工作條件:電壓、電流、功率環(huán)境條件:溫度、濕度、氣壓
同一規(guī)格元器件,工作環(huán)境條件不同,其可靠性不同。工作負(fù)荷重、環(huán)境惡劣條件下,產(chǎn)品可靠性下降,損壞概率上升。
規(guī)定時間
產(chǎn)品可靠性隨使用/存貯時間的延長而降低,無故障工作時間越長,表示產(chǎn)品可靠性越高。談及可靠性必須有時間長度(或使用次數(shù)),離開時間的可靠性無意義。
規(guī)定功能
“功能”就是產(chǎn)品的技術(shù)指標(biāo)、技術(shù)要求。是正常工作的性能指標(biāo)。

  如何描述可靠性高低水平?

  別人問你工廠制造的產(chǎn)品可靠性如何,該怎樣回答?

  是的,大家都可以說自家產(chǎn)品可靠性很高,但是多高呢?!

  其實,產(chǎn)品的可靠性是可以量化描述,可靠性量化指標(biāo)使用的是統(tǒng)計概率意義上的數(shù)據(jù)。

  對電子元件描述可靠性高低主要特征量有:可靠度 、失概率 、壽命 。

可靠度 R (t)
電子元件在規(guī)定條件和規(guī)定時間內(nèi),完成規(guī)定功能的概率稱為可靠度。
r(t):工作到t時刻失效數(shù);N0:試驗產(chǎn)品總數(shù);例: 投入10000只75KΩ的電阻器,以天為計量單位,使用一年后(365天)時,發(fā)現(xiàn)3只電阻器壞了,則一年的可靠度 :R(365)=(10000-3)/10000=0.9997
失效率λ(t)
產(chǎn)品在t時刻后的單位時間內(nèi)發(fā)生失效的概率。

Nt:t時刻性能正常產(chǎn)品數(shù);△ t:監(jiān)測的時間間隔;△r(t):監(jiān)測的時間間隔△t內(nèi)失效產(chǎn)品數(shù)。
失效率的單位通常有三種表示方法:1/h , %/1000h , Fit(非特)1Fit=10-9 /h,每1000個產(chǎn)品工作1百萬小時之后,只有一個失效。電子元件失效率較低,常以Fit(非特)為單位。例: 投入1000000只貼片電容,使用1000小時后,發(fā)現(xiàn)3只電容器壞了,則失效率為:λ(t)=3/(1000000*1000)=3*10-9 /h=3Fit
壽 命
平均壽命MTTF 產(chǎn)品使用時失效時間的平均值,對電子元件因其壽命服從指數(shù)分布,所以MTTF=1/λ。
儲存壽命 對某些電子元件,如液態(tài)電解電容器,即使在不工作的狀態(tài)下,其功能和可靠性也會隨時間的延長而下降,因此對這類產(chǎn)品儲存壽命是一個重要的指標(biāo)。

  電子元件的失效服從指數(shù)分布,失效率為常數(shù),可靠度與失效率的關(guān)系為:

R(t)=e- λ (t)

  我國有可靠性指標(biāo) 電子元件按失效率大小分七級:

級別

符號

最大失效率

(1/h或1/10次)

亞五級

Y

3╳10-5

五  級

W

1╳10-5

六  級

L

1╳10-6

七  級

Q

1╳10-7

八  級

B

1╳10-8

九  級

J

1╳10-9

十  級

S

1╳10-10

  注:當(dāng)工作壽命按次數(shù)計算時,單位為1/10次, %/1000次, 1Fit

  電子元件失效率試驗所確定的失效率是基本失效率,是在產(chǎn)品技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)條件下的失效率,不是產(chǎn)品實際使用條件下的失效率。

  電子元件失效規(guī)律

  大量的使用和試驗表明,電子產(chǎn)品失效與時間曲線的特征是兩端高、中間低,呈浴盤狀,如圖,通常稱為浴盤曲線。

早期失效
產(chǎn)品使用初期,失效率較高,并迅速下降。對電子元件這一階段的失效主要是設(shè)計不當(dāng)、材料缺陷、制造缺陷和安裝不當(dāng)引起的。在工作應(yīng)力的作用很快會暴露出來。
偶然失效
產(chǎn)品使用一段時間后,失效率會降到一個較低的水平,基本處于平穩(wěn)的狀態(tài),失效主要由偶然因素所造成。偶然失效期是產(chǎn)品主要工作的時期。
耗損失效
產(chǎn)品使用相當(dāng)長的時間后,失效率迅速上升,這是產(chǎn)品老化、疲勞、磨損、蠕變、腐蝕等原因所引起的,是產(chǎn)品的壽命“終了”,稱為耗損失效期。

  對于實際電子產(chǎn)品,不一定都必須出現(xiàn)上述三個階段。高質(zhì)量等級產(chǎn)品的失效率曲線在其壽命期基本上是一條平穩(wěn)的直線,而低劣產(chǎn)品可能存在大量的早期失效或很快進(jìn)入耗損失效期。

  如產(chǎn)品設(shè)計、生產(chǎn)工藝不合理,只出現(xiàn)早期失效期和耗損失效期,這是產(chǎn)品質(zhì)量過于低劣。

  提高系統(tǒng)(或產(chǎn)品或元器件)在整個壽命周期內(nèi)可靠性的一門有關(guān)設(shè)計、分析、試驗的工程技術(shù)。可靠性試驗是可靠性工程的重要組成部分。

  可靠性試驗

  為了評價分析電子產(chǎn)品可靠性而進(jìn)行的試驗稱為可靠性試驗??煽啃栽囼灴梢詼y算產(chǎn)品可靠性指標(biāo),分析產(chǎn)品的失效原因。

  可靠性試驗與例行測量測試的區(qū)別:

  例行測量 :用儀器直接測量,判定性能參數(shù)是否滿足出廠指標(biāo)。

  可靠性試驗 :用統(tǒng)計方法作定量分析,得出可靠性指標(biāo),不能直接測讀出來。

  可靠性試驗時,對受試樣品施加一定的應(yīng)力 ,并監(jiān)測應(yīng)力作用下的樣品性能的變化,判斷產(chǎn)品是否失效。

  [應(yīng)力] 對產(chǎn)品的功能有影響和各種因素,包括電壓、電流、機械力和環(huán)境等。

  可靠性試驗分類:

  按試驗地點和試驗方式分:

  現(xiàn)場試驗:工作現(xiàn)場測量

  模擬試驗:模擬實際工作狀態(tài)的試驗

  實驗室進(jìn)行的試驗多屬模擬試驗。

  按試驗項目分類:

  通常慣用的分類法,是把它歸納為四大類:

  A. 環(huán)境試驗

  B. 壽命試驗

  C. 特殊試驗

  D. 現(xiàn)場使用試驗

  環(huán)境試驗

  測試產(chǎn)品對環(huán)境條件的適應(yīng)能力,環(huán)境條件主要包括以下:

  氣候條件:溫度、濕度、氣壓、潮熱、鹽霧

  機械條件:振動、沖擊、離心

  輻射條件:電場、磁場、電磁場、各種射線

  生物條件:霉菌

  電氣條件:雷擊、電暈放電

  人為因素:運輸、使用、維護(hù)

  電子產(chǎn)品依據(jù)工作環(huán)境,選擇顯著影響可靠性項目條件(單一或組合)進(jìn)行環(huán)境試驗。

  對電子元件 常用的環(huán)境試驗項目有:

  氣候試驗:密封性試驗、溫度循環(huán)試驗、熱沖擊試驗、氣壓試驗、潮熱試驗、鹽霧試驗。

  機械試驗:振動、沖擊、離心、碰撞、跌落等

  壽命試驗

  為測定電子元件在工作或貯存下壽命的長短所做的試驗。

  將一定數(shù)量的產(chǎn)品放在特定的試驗條件下,記錄樣品的失效時間,并進(jìn)行統(tǒng)計分析,評估可靠性數(shù)量特征。

  對于大部分電子產(chǎn)品,壽命是最主要的一個可靠性特征量。因此,對電子元件,可靠性試驗往往指的就是壽命試驗。

  長期壽命試驗: 1000小時以上的試驗時間

  長期貯存壽命試驗: 元件放在一定條件下(不放加電應(yīng)力)貯存,以確定貯存壽命和失效率。試驗時間3年左右,有的達(dá)10年。失效率低。

  長期工作壽命: 產(chǎn)品置于一定的工作條件下進(jìn)行工作,確定正常使用狀態(tài)下的壽命和失效率。累積失效率40%左右即可進(jìn)行統(tǒng)計分析可靠性指標(biāo)。

  加速壽命試驗

  長期壽命耗時耗力,通訊衛(wèi)星用元器件工作壽命要求>5年,海底電纜增益晶體管工作壽命要求>20年!為了縮短試驗周期、減少樣品數(shù)量和試驗費用,常常采用加速壽命試驗,在不改變失效機理前提下,提高應(yīng)力,使元件加速失效,在較短的時間內(nèi)取得失效率壽命數(shù)據(jù),推算正常狀態(tài)應(yīng)力條件下的可靠性特征量。

  加速應(yīng)力可以是電氣的、機械的、物理化學(xué)的,或它們的綜合。

  一般以高于正常用應(yīng)力的固定恒定應(yīng)力進(jìn)行試驗,本試驗方法簡單,普遍使用。

  

  特殊試驗

  用特殊的設(shè)備或儀器進(jìn)行試驗或檢查。

  在可靠性篩選試驗中使用較多,主要用于非破壞試驗和失效樣品分析。

  紅外熱譜檢測:檢測電子元件存在的雜質(zhì)缺陷。這些弱點產(chǎn)生局部過熱,紅外探測可分辯。

  現(xiàn)場使用試驗

  對模擬試驗正確與否加以證實和檢驗。

  可靠性篩選試驗

  采用外加應(yīng)力將電子元件成品中潛在的早期失效產(chǎn)品剔除,從而分選出具有高可靠性產(chǎn)品的試驗稱為可靠性篩選試驗。

  外加應(yīng)力可以是熱應(yīng)力、電應(yīng)力、機械應(yīng)力或者幾種應(yīng)力的組合。

  普通篩選 剔除低劣品

  精密篩選: 在普通篩選的基礎(chǔ)上進(jìn)行二次篩選,剔除參數(shù)漂移大的產(chǎn)品,得到可靠性特別高的產(chǎn)品。

  可靠性篩選試驗方法

  根據(jù)篩選性質(zhì)和應(yīng)力或工具不同,大致分為:

  檢查篩選: 目視或顯微鏡檢查篩選

  紅外線、 X射線非破壞檢查篩選

  超聲波非破壞檢查篩選

  測量特性值檢查篩選

  致密性篩選: 濕度試驗篩選

  環(huán)境應(yīng)力篩選: 振動加速度、沖擊加速度

  溫度循環(huán)、熱沖擊

  壽命篩選 : 高溫存儲、功率老化

  篩選項目和篩選應(yīng)力確定的原則

  1、必須針對元件的質(zhì)量、使用環(huán)境、工作狀態(tài)等確定篩選條件。

  2、要有大量的可靠性摸底試驗數(shù)據(jù)或現(xiàn)場使用數(shù)據(jù)資料,確定與失效機理相應(yīng)的篩選項目、應(yīng)力和時間。

  3、篩選方法對無缺陷品應(yīng)是一種非破壞試驗。

  4、篩選參數(shù)據(jù)電子元件種類而不同

  篩選應(yīng)力大小及篩選時間的確定

  應(yīng)力強度過大過小,時間過長或過短均帶來不好的結(jié)果,篩選應(yīng)力大小和作用時間的選取原則是:

  ①針對產(chǎn)品的主要失效機理確定;

 ?、谒玫膽?yīng)力不破壞良好的產(chǎn)品,快速暴露有缺陷的產(chǎn)品;

  ③根據(jù)用途、成本、批量大小和設(shè)備等條件統(tǒng)一考慮,力求最佳的經(jīng)濟效果;

  ④充分調(diào)查,收集數(shù)據(jù),掌握產(chǎn)品的失效分布和失效機理,才能確定合理的篩選項目。

  具體篩選應(yīng)力上限和篩選時間,須根據(jù)大量的可靠性摸底試驗數(shù)據(jù)確定。

  篩選方法的評價

  理想的篩選結(jié)果是次品數(shù)全部剔除,好品沒被剔除。

  

  評價方法

  篩選淘汰率 Q

  Q=篩選剔除數(shù)/篩選總數(shù)*100%

  國外高可靠性產(chǎn)品的技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)中,一般都規(guī)定了篩選淘汰率的上限值,如美國軍用標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定了各種元器件的篩選淘汰率:

  紙介電容器5%

  云母電容器8%

  陶瓷電容器5%

  碳膜和金屬膜電阻器為3%

  篩選效率

  η=剔除產(chǎn)品失效數(shù)/總失效數(shù)=r/R

  比值越大,早期失效產(chǎn)品被剔除得越多,篩選方法越好

  篩選效果

  β=(λ-λ')\ λ*100%

  表征篩選前后,失效率下降的相對幅度

  可靠性篩選花費的時間和費用都是很大的,但對于新型電子元件和要求可靠性極高的電子元件,可靠性篩選意義重大。特別是空間技術(shù)和軍事工業(yè)上用的電子元件均經(jīng)過嚴(yán)格科學(xué)的流程進(jìn)行可靠性篩選。

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