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應(yīng)用探析|高速攝像儀在單晶硅表面池沸騰可視化測量分析中的應(yīng)用

來源:合肥富煌君達(dá)高科信息技術(shù)有限公        編輯:QQ123    2021-05-19 11:51:50     加入收藏

應(yīng)用探析|高速攝像儀在單晶硅表面池沸騰可視化測量分析中的應(yīng)用

  1.高速攝像儀在材料中的應(yīng)用

  單晶硅是一種活潑的非金屬元素晶體,廣泛應(yīng)用于太陽能光伏發(fā)電、供熱、能源存儲等。新材料技術(shù)的不斷進(jìn)步,促使其向著極高效可用的趨勢發(fā)展。故對不同結(jié)構(gòu)的單晶硅表面池沸騰相變傳熱性能研究具有非常重要意義。

  華北電力大學(xué)能源動力與機械工程學(xué)院的科研團(tuán)隊,利用千眼狼高速攝影測量分析技術(shù)對光滑、微坑、均勻微柱和槽型微柱四種不同單晶硅表面的沸騰現(xiàn)象進(jìn)行了在線可視觀測試驗,獲得了各表面氣泡動力學(xué)演變過程及局部溫度演變規(guī)律,揭露了基于動力學(xué)過程的沸騰強化機理。

  2.可視池沸騰實驗與可視化分析

  科研人員設(shè)計搭建由方形沸騰池、溫控加熱系統(tǒng)、高速攝像及紅外熱成像系統(tǒng)、數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)組成的實驗臺,可同時觀測沸騰動力學(xué)過程和溫度演變過程的可視化池沸騰,并利用涂覆導(dǎo)電膜的單晶硅作為沸騰基底表面,依次對光滑、微坑、微柱、槽型微柱四種試樣進(jìn)行試驗(更多詳情請見《化工學(xué)報》2019年第70卷第4期)。

  圖1 池沸騰實驗臺

  實驗采用千眼狼高速攝像儀及紅外熱成像儀同步采集系統(tǒng)以從側(cè)壁進(jìn)行高速圖像采集,以2320×1720的全高清分辨率,對不同結(jié)構(gòu)單晶硅表面的核態(tài)沸騰過程中氣泡運動過程及氣泡演變過程中局部溫度變化規(guī)律進(jìn)行監(jiān)測分析。

  1/2.氣泡動力學(xué)規(guī)律分析

  圖2 氣泡動力學(xué)參數(shù)與有效熱通量的關(guān)系曲線

  通過圖2可知,光滑表面在沸騰初期核化密度較穩(wěn)定,熱通量q″從沸騰起始點(59kW/ m2)到108.5kW/m2范圍內(nèi),脫離直徑隨有效熱通量增大而增大并達(dá)到極大值;繼續(xù)增大有效熱通量,脫離直徑開始減小直至2.1mm左右趨于穩(wěn)定。對于氣泡脫離時間而言,隨著有效熱通量增加脫離時間呈單調(diào)減小趨勢。

  圖3 不同表面上沸騰氣泡高速圖片

  如圖3可知,微坑表面為孤立氣泡的核化提供了穩(wěn)定的核化中心,沸騰氣泡更易生成;同時其臨界脫離直徑較穩(wěn)定,隨有效熱通量變化在 2.15~2.4mm區(qū)域內(nèi)變化;而氣泡脫離時間隨有效熱通量增大而縮短,且短于同有效熱通量下的光滑表面的脫離時間,即實驗中微坑結(jié)構(gòu)不僅強化氣泡的核化,同時也強化了氣泡脫離。

  微柱表面,熱通量(q″=35kW/m2)下即可觀察到氣化核心的產(chǎn)生;且受微結(jié)構(gòu)的影響,微柱陣列提供了氣泡核化中心,同時氣泡生長引起微柱間隙的液體的微流動促進(jìn)了氣泡的脫離,使得表面氣泡未發(fā)生合并即脫離,脫離時間縮短至幾毫秒。

  槽型微柱表面,熱通量下(q″=40 kW/m2)氣泡優(yōu)先在槽道內(nèi)成核生長,且其脫離直徑較大;隨著有效熱通量的增大槽道和微柱間隙的氣泡都逐漸長大,且易發(fā)生氣泡合并形成較大氣泡。

  2/2.局部溫度演變規(guī)律分析

  試驗采用高速攝像儀及紅外熱成像儀同步采集系統(tǒng),觀察四種試樣表面單個孤立氣泡生長運動過程壁面溫度場演化規(guī)律。

  圖4 光滑表面單個氣泡在周期內(nèi)的溫度演變規(guī)律

  如圖4可知,光滑表面q″=89KW/m2時汽化核心處先形成一個氣泡雛形,隨相變的進(jìn)行氣液交界面外擴,氣泡逐漸長大,同時氣泡中心由于相變帶走熱量溫度降低。q″=130KW/m2時,核化氣泡迅速增大到最大氣泡直徑,且底部薄液膜消失,在氣泡中心形成干燒區(qū),且單氣泡周期明顯減小。

  圖5 微結(jié)構(gòu)表面沸騰氣泡形成脫離過程

  如圖5可知,300μm微坑表面在過熱度較高的微坑處氣泡初始核化,但受有限表面在界面處的溫度梯度以及界面附近的Maragoni微對流的影響,氣泡會出現(xiàn)從微坑向邊界移動的滑移現(xiàn)象,促進(jìn)了上一代氣泡的快速脫離,從而增大了氣泡的脫離頻率。

  微柱表面生成氣泡時,當(dāng)t值不斷增加時,微柱間隙內(nèi)的微小核化點密集的區(qū)域上的氣泡不斷長大并合并成為大氣泡;當(dāng)t=14ms時該氣泡脫離壁面,此脫離過程的時長僅為10ms數(shù)量級。在整個氣泡運動過程中,微柱的存在大大提高了壁面的溫度均勻性,抑制了由          于氣泡干斑區(qū)內(nèi)溫度過高換熱不良而造成的沸騰惡化,因此微柱的存在可以有效地提高臨界有效熱通量。

  槽型微柱表面氣泡的吸納合并作用發(fā)生在氣泡生成極短的時間內(nèi),槽內(nèi)氣泡來不及長大即被快速側(cè)吸到微柱區(qū)與大氣泡合并脫離;壁面溫度的均勻性也相應(yīng)提高。但槽道的寬度對壁面溫度的均勻性存在影響,寬度加大可以造成中間氣泡無法被 側(cè)吸,引起局部過熱。

  3.結(jié)論

  試驗結(jié)果表明單晶硅表面微結(jié)構(gòu)設(shè)計顯著降低了核化沸騰的起始過熱度,利用微結(jié)構(gòu)對槽道內(nèi)氣泡的側(cè)吸作用,可控制氣泡的快速匯聚、脫離以及沸騰氣泡的空間分布位置。通過高速攝像儀對采集的氣泡運動試驗過程進(jìn)行分析,可掌握單晶硅表面微結(jié)構(gòu)氣泡動力學(xué)過程各階段換熱機理,可優(yōu)化單晶硅局部微結(jié)構(gòu)設(shè)計,為為新型材料研究帶來更可靠的應(yīng)用價值。

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